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  • FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀
    FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀

    更新時間:2024-09-05

    型號:FDS 2000

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    半導體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀,是基于電介質介電響應理論,集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。是我們華測公司的優(yōu)質儀器,售后好價格優(yōu)請您放心的選購。
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  • FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)
    FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)

    更新時間:2024-09-05

    型號:FDS 2000

    瀏覽量:1411

    半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng),是基于電介質介電響應理論,集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測試頻率范圍為1mHz-1kHz,且在低頻范圍內可以選用快速測試方式,在保證測試精度的前提下, 大幅減少實驗室測量時的等待時間及現(xiàn)場測量的停電時間。
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  • HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器
    HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器

    更新時間:2024-07-15

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:1463

    觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器產品簡介,HCDH-200漏電起痕試驗儀適用于照明設備、低壓電器、家用電 器、機床電器、電機、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術設備的研究、生產和質檢部門,也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。,也適用 于電氣能力驗證計劃與技術研討會中的有關CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測試。
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  • Huace-300高阻計 /可測高電阻 微電流
    Huace-300高阻計 /可測高電阻 微電流

    更新時間:2024-12-12

    型號:Huace-300

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    Huace-300 高阻計 /可測高電阻 微電流,既可測量高電阻,又可測微電流。測量精度達到3‰。
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  • HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗設備
    HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗設備

    更新時間:2025-01-22

    型號:HCLD-2

    瀏覽量:142

    固體絕緣材料漏電起痕試驗設備(電痕化指數(shù)試驗儀)儀主要是模擬家用電器產品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險。
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  • Huace-300高阻計 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法
    Huace-300高阻計 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法

    更新時間:2025-01-20

    型號:Huace-300

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    Huace-300高阻計 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法既可測量高電阻,又可測微電流。測量精度達到3‰。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從0.01×104Ω ~1×1018Ω,是目前國內測量范圍較寬,準確度最高的數(shù)顯式絕緣材料電阻率測量儀器。
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  • HCDJ-37a評估材料絕緣性介電常數(shù)損耗測試儀
    HCDJ-37a評估材料絕緣性介電常數(shù)損耗測試儀

    更新時間:2025-01-17

    型號:

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    HCDJ-37a評估材料絕緣性介電常數(shù)損耗測試儀是華測儀器推出的新一代高壓電橋,主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路,主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工絕緣油及各種絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗(tgδ)和電容量(C)及介電常數(shù)(ε)。
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  • Huace-300絕緣材料電阻測量體積表面電阻率測試儀
    Huace-300絕緣材料電阻測量體積表面電阻率測試儀

    更新時間:2025-01-17

    型號:Huace-300

    瀏覽量:155

    Huace-300 絕緣材料電阻測量體積表面電阻率測試儀既可測量高電阻,又可測微電流。測量精度達到3‰。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。
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